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Struktur für Prüfsystem mit X Prüfungen



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20.02.2018, 17:06
Beitrag #7

kpa Offline
LVF-Stammgast
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Beiträge: 385
Registriert seit: Mar 2007

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2002
DE

88***
Deutschland
Smile RE: Struktur für Prüfsystem mit X Prüfungen
Hallo MaxP,

ich habe das Testen von einem Gerät (DUT) das in 140 verschiedenen Varianten vorkam so umgesetzt:

- Geräteerkennung über Seriennummer (Handscanner)
- anhand der Seriennummer konnte die Konfiguration des DUT ermittelt werden (aus einer Konfigurationsdatei)
- erstellen eines Arrays mit den Testnamen/Statenamen
- eine Statemachine mit je einem State für alle vorkommenden Tests
- mit dem Array für die Testnamen die infragekommenden Tests/States ausführen

Also praktisch dynamisches Ausführen von States.

Grüße

kpa
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RE: Struktur für Prüfsystem mit X Prüfungen - kpa - 20.02.2018 17:06

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