Sers Leute,
ich bin nun schon seit einiger Zeit auf der Suche nach Hilfe im Internet, aber leider immer nur auf Fragmente der Lösung oder gute Ansätze in falscher Richtng gestoßen. In diesem Sinne dachte ich mir, ich frag hier mal nach. Vl kann mir ja von euch einer helfen. (Im Falle einer bereits bestehenden Lösung: ich hab die SuFu benutzt
)
Aufgaben/Problem-stellung:
Ich habe ein Programm geschrieben, dass von "noisy" Bildern die komplexe FFT erstellt, einen Tiefpassfilter anwendet und wieder die inverse FFT erstellt, sprich das original Rekonstruiert.
Mit diesem Programm, werden die störenden Frequenzen aus dem original Bild genommen und übrig bleibt ein rekonstruirtes, entstörtes Bild. Um nun den Filter anwenden zu können, muss die Filter Maske entsprechend der Ausrichtung der FFT angepasst werden. Derzeit wird dies manuell mittels konstantem Wert bei der "Imaq Rotate"-Funktion erreicht, soll aber automatisiert geschehen.
Meine gedachte Lösung:
Mein Hauptproblem ist das Erstellen und der Vergleich von offenen Mustern innerhalb der Bildverarbeitung. So haben alle FFT transformierten Bilder nach der komplexen Frequenzspiegelung ein gleichmäßig verteiltes Punktmuster. Ich würde hier gerne im Bildmittelpunkt 3 dieser Punkte verbinden um einen rechten Winkel zu erhalten. Die Ausrichtung dieses Winkels sollte nun mit einem Referenzwinkel (0°) verglichen bzw subtrahiert werden. Das Resultat wäre dann als Maskenwinkel zu übernehmen und würde für einen Großteil der zu analysierenden Bilder übereinstimmen.
Das angehängte Bild zeigt meinen Gedankengang: grün = Referenzwinkel, rot = realer Winkel
Maske (dicke Dots) soll an die Ausrichtung der FFT (Lichtpkte) angepasst werden.
Bin für alle Denk- und Lösungsvorschläge offen.
mfg und in der Hoffnung auf eure Antworten,
markus
PS: LabView 2010 SP1 (32-bit)
